4. ПОДГОТОВКА ИЗДЕЛИЯ К ИЗМЕРЕНИЮ
     4.1 Измерения проводятся при температуре окружающего воздуха и поверхности изделия от 5 до 40 С.
     4.2. Источники яркого света (например, электросварка) и пыли (например, зачистные машины), расположенные на расстоянии < 10 м, должны быть ограждены.
     4.3. Проводится разметка и нумерация точек в соответствии с ПТД. Разметка должна быть выполнена так, чтобы она не мешала измерению и не стиралась при осуществлении процесса измерения. Например, разметка может быть выполнена с помощью маркировочного фломастера.
     4.4. Для измерения толщины основного металла подготавливается площадка размером 30х30 мм2 с центром в точке измерения.
     4.5. Для измерения толщины антикоррозионного покрытия прямыми и раздельно-совмещенными ПЭП подготавливается площадка размером 50х50 мм2 . При использовании наклонных ПЭП размер площадки 40х3,4 Н с центром в точке измерения, где Н - толщина изделия. Больший размер на криволинейных поверхностях - перпендикулярно к направлению наплавки.
     4.6. Подготовленная площадка должна быть свободна от загрязнений, отслаивающейся окалины или краски. Шероховатость поверхности изделия со стороны ввода УЗ-колебаний должна быть ? R? = 6,3 мкм по ГОСТ 2789-73.
     4.7. Допускается проводить измерения по поверхности, покрытой плотной пленкой оксида или тонким ровным слоем краски. Возможность выполнения толщинометрии и точностные характеристики измерения в этих условиях должны быть предварительно установлены экспериментальной проверкой специалистами по контролю.
     4.8. Допускается проводить измерения толщины сосудов, наполненных водой.
     4.9. При измерении толщины на участках зачистки поверхностных дефектов в месте максимальной глубины выборки для установки ПЭП должна быть подготовлена плоская площадка диаметром 15 мм, параллельная поверхности изделия. В некоторых случаях измерение может быть выполнено со стороны, противоположной выборке.
     4.10. Если выборка имеет крутой профиль и обеспечить плоскую площадку для установки ПЭП не представляется возможным, то следует измерить толщину в точках вокруг выборки. Глубина выборки измеряется микрометрическим либо индикаторным глубиномером. Толщина изделия в месте выборки находится как разница между его минимальной толщиной в окрестности выборки по данным измерений УЗ-методом и максимальной глубиной выборки по результатам измерения измерительным инструментом. Погрешность этого измерения принимается равной погрешности измерения УЗ-прибором.
     4.11. Изделия предъявляются на измерение в порядке, принятом на предприятии.
     4.12. Подготовка изделия к измерению и создание необходимых условий для его выполнения в обязанности контролера не входят.
    5.НАСТРОЙКА ПРИБОРА
     5.1. Настройка прибора включает две операции:
     5.1.1. Настройка на скорость звука в изделии.
     5.1.2. Установка нуля или настройка задержки развертки.
     5.2. Настройка на скорость звука в изделии проводится:
* для монометаллов - по образцу Т1
* для биметаллов - по образцу БТ1, а при использовании дифектоскопа без БЦО - по образцу Т1;
* для антикоррозионных покрытий при измерении со стороны основного металла - по образцам ТН1 или ТН3;
* для антикоррозионных покрытий при измерении со стороны покрытия - по образцам ТН2 или ТН3;
* для антикоррозионного покрытия биметаллических труб наклонным ПЭП - по образцу ТНН1.
     5.2.1. Настройку по пп. 5.2.3 и 5.2.4 допускается проводить с помощью образцов без антикоррозионного покрытия с учетом различия скоростей звука в покрытии и металле образца.
     5.3. Настройка на скорость звука в изделии заключается в такой регулировке прибора, чтобы:
* расстояние между эхо-импульсами от ступней 10 и 20 мм образца Т1 составляло 10,0 мм;
* расстояние между первым и вторым донными эхо-сигналами из образца ТБ1 (рис.9,а) составляло Н (при использовании дефектоскопа с БЦО) или показание толщиномера составляло Н (при использовании толщиномера);
* расстояние между первым и вторым донными эхо-импульсами ступени образца ТН2 или покрытия под пазом образца ТН3 (рис.9,б) соответствовало толщине покрытия на данном участке образца;
* расстояние между эхо-импульсами от впадины и выступа образцов ТН1, ТН3 или ТНН1 (рис.10, 11) соответствовало глубине паза.


      Рис.9. Схема настройки на скорость звука в изделии по образцам ТБ1 (а) и ТН3 (б)

      Рис.10. Настройка на скорость звука в наплавке по образцу ТН1
     5.4. При настройке на скорость звука в изделии для дефектоскопов без БЦО цена деления горизонтальной шкалы экрана не должна превышать 0,5 мм.
     5.5. Установка нуля толщиномеров проводится в соответствии с инструкцией по эксплуатации приборов.
     5.6. Установка нуля или настройка задержки развертки дефектоскопов выполняется:
* для монометаллов - по образцу Т2;
* для биметаллов - по образцу ТБ1;
* для антикоррозионных покрытий со стороны основного металла - по донному сигналу на изделии;
* для антикоррозионных покрытий при измерении со стороны покрытия - по образцам ТН2 или ТН3;
* для антикоррозионного слоя биметаллических труб наклонным ПЭП - по образцу ТНН1.
      Примечание. Операции по пп.5.6.1, 5.6.2 допускается проводить по участку изделия, доступному прямому измерению с погрешностью, не превышающей ± 0,005 мм.
     

      Рис.11. Измерение толщины антикоррозионного покрытия наклонными преобразователями: а - схема измерения; б - схема настройки дефектоскопа; в - осциллограммы экрана дефектоскопа; И - излучатель; П - приемник; Н - толщина покрытия (плакирующего слоя); Н - глубина паза (плоскодонного отверстия)
     5.7. Настройка задержки развертки дефектоскопов без БЦО заключается в такой регулировке прибора, чтобы измеряемые эхо-импульсы занимали положение в пределах средней трети горизонтальной шкалы ЭЛТ.
     5.8. В случаях, когда прибор имеет калиброванный измеритель скорости звука, настройка скорости звука может быть выполнена путем установки на приборе известного значения этой скорости.
     5.9. Во всех случаях настройки и измерения высота измеряемого импульса должна быть одинаковой и находиться в пределах 1/5 - 1/2 высоты ЭЛТ дефектоскопа.
     5.10. Если форма измеряемого импульса существенно отличается от формы настроечного импульса, то путем вращения или небольшого перемещения ПЭП следует получить идентичный импульс.
     5.11. Форма импульса может быть оптимизирована введением отсечки или другими способами, реализовать которые позволяет используемый тип дефектоскопа. При этом положения оптимизирующих регулировок в режимах настройки и измерения не должны отличаться.
     5.12. Для дефектоскопов без БЦО отсчет положения измеряемого импульса проводится по точке пересечения переднего фронта импульса с горизонтальной линией развертки.
     5.13. После окончания настройки ее следует проверить на образце или в контрольной точке на изделии по толщине, отличающейся от настроечной не более чем на 10%. Если при этом будет получено отклонение от фактической толщины более чем на величину дискретности измерения для приборов с цифровой индикацией или более чем на половину цены деления для дефектоскопов без БЦО, то настройку следует повторить.
     5.14. После проверки настройки дефектоскопа положение органов регулировки необходимо зафиксировать, убедившись что настройка не сбилась во время фиксации.
     5.15. При настройке и измерениях должно обеспечиваться плотное равномерное прилегание ПЭП к поверхности изделия.
    6.ПОГРЕШНОСТЬ ИЗМЕРЕНИЙ
     6.1. В общем случае погрешность измерения определяется в соответствии с методикой, изложенной в приложении.
     6.2. При измерении толщины антикоррозионной наплавки погрешность  ? принимается равной ± 1,0 мм при доверительной вероятности Р=0,95.
     6.3. При измерении толщины плакировки листов и изделий, изготовленных из плакированных листов, погрешность принимается равной ± 0,2 мм при доверительной вероятности Р=0,95.
     6.4. При измерении толщины монометаллических изделий из сталей перлитного класса и биметаллических изделий толщиной 20 мм или более погрешность принимается равной ± 0,01 Н, но не менее шага дискретности цифровки приборов, или половине цены деления дифектоскопов без БЦО при Р=0,95.
     6.5. При измерении толщины монометаллических изделий толщиной < 20 мм погрешность принимается равной ± 0,2 мм при Р=0,95
     6.6. Если СОП типов Т1, Т2 или ТБ1 изготовлены непосредственно из контролируемой заготовки, то погрешность принимается равной шагу дискретности цифровых приборов или половине цены деления дефектоскопов без БЦО.
     6.7. Погрешность при Р=0,95 может быть меньше значений, указанных в пп. 6.4, 6.5, если это доказано действиями, выполненными по приложению, и оформлено отчетом, согласованным с ведомственной метрологической службой.
     6.8. Погрешность при Р > 0,95 определяется по методике, данной в приложении.

Новости